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André administrateur
Inscrit le: 07 Jan 2007 Messages: 11030 Localisation: Montreal 45.500°N, 73.580°W
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Posté le: Sam 12 Jan 2008 10:43 pm Sujet du message: Un procédé innovant pour les interféromètres de Fizeau |
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SAlut a tous
Les interféromètres de Fizeau sont utilisés pour la détermination de topographies de surfaces .
Un procédé développé par l'Institut fédéral de physique et de technique (PTB) permet aujourd'hui une analyse simplifiée d'une surface d'échantillon donnée ayant un facteur de réflexion variable.
Ce procédé permet la réalisation de mesures dynamiques.
Les interféromètres de Fizeau génèrent une interférence entre une surface d'essai et une surface de référence amenée à proximité de la première.
La figure d'interférence est enregistrée par réflexion. Se créent alors des franges claires et sombres qui montrent les courbes de niveau des défauts optiques.
Si les franges sont parfaitement rectilignes, alors la surface optique est excellente.
Le nouveau procédé permet un contraste et une forme des signaux d'interférence indépendante du coefficient de réflexion des échantillons de test.
Le procédé, en attente d'être breveté, utilise une technique de division du front d'onde connue sous le nom de "on-axis" qui permet une division des directions de polarisation de la lumière incidente le long de l'axe optique.
A travers la production de lumière polarisée, la mesure peut être ramenée à une interférence entre deux rayons au lieu de quatre traditionnellement.
L'évaluation du signal est ainsi simplifiée et améliorée. En faisant varier la direction de polarisation, il est possible de contrôler le contraste indépendamment du coefficient de réflexion de l'échantillon.
Au contraire, les interféromètres de Fizeau classiques doivent établir leurs mesures en utilisant plusieurs surfaces de références ayant chacun un coefficient de réflexion.
Pour augmenter la précision d'interféromètres classiques, un déphasage variable est créé à partir de la différence mécanique entre échantillon et surface de référence, ce qu'on appelle l'interférométrie à déphasage.
Un avantage supplémentaire du nouveau procédé est qu'un tel déphasage est possible par l'utilisation de composants électro-optiques, évitant l'introduction d'éléments mobiles dans le système.
Tout cela entraine des coûts considérablement plus élevés pour la mesure et l'évaluation de la topographie d'échantillons mais de telles mesures dynamiques sont applicables dans des milieux soumis à des vibrations.
Les applications sont nombreuses dans l'industrie optique et l'industrie des semi-conducteurs.
source :
http://fr.wikipedia.org/wiki/Interf%C3%A9rom%C3%A9trie
- Publication : http://redirectix.bulletins-electroniques.com/8udri
amicalement _________________ Etrange époque où il est plus facile de désintégrer l' atome que de vaincre un préjugé.
Einstein, Albert, |
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